X-RAY膜厚儀標準片校正片

X-RAY膜厚儀標準片校正片

標準片廠牌：韓國Micropioner

標準片應用X-RAY鍍層測厚儀,不同品牌鍍層測厚儀標準片通用

用于校正鍍層測厚儀標準及添加測量應用程序

X射線測厚儀校正片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度范圍均可訂制，附帶標準證書

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品

根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。

以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、電子元器件，端子連接器，五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

MicropioneerXRF-2020鍍層測厚儀三款機型如下圖

檢測電子電鍍層厚儀，測量鍍金,鍍銀，鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

金標準片，銀標準片，鎳標準片，錫標準片，銅標準片，鋅標準片如下圖

鈀標準片，銠標準片，鉑標準片如下圖

X-RAY膜厚儀標準片校正片

XRF-2020鍍層測厚儀標準片通用各品牌X-RAY鍍層測厚儀

銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀，鉑，銠各種厚度

規格均可訂制，校準片均附帶證書。