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    X熒光無損測厚儀

    更新時間:2020-11-20

    簡要描述:

    XRF-2020鍍層測厚儀X射線膜厚儀檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度,快速無損檢測電子電鍍層厚度.

      XRF-2020X熒光無損測厚儀系列規格型號如下圖:
     
     

    X射線無損測厚儀
     
      原產地:韓國
     
      品牌:Micropioneer微先鋒
     
      型號:XRF-2020
     
      適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。
     
      可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。
     
      應用廣泛,適應電鍍生產企業,產品來料檢測等。
     
      X熒光無損測厚儀特點:
     
      全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
     
      功能及應用:
     
      檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚
     
      可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。
     
      單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
     
      雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
     
      多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層:
     
      鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
     
      XRF-2020系列
     
      儀器測量精度:
     
      表層:±5%以內,第二層:±10%以內,第三層:±15%以內
     
      韓國Miceopioneer
     
      XRF-2020測厚儀型號規格
     
      L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
     
      H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
     
      三款機型均為全自動樣品臺自動雷射對焦,多點自動測量

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